By Malhouitre S.   Jehoul C.   Van Aelst J.   Struyf H.   Brongersma S.   Carbonell L.   Vos I.   Beyer G.   Van Hove M.   Gronbeck D.   Gallagher M.   Calvert J.   Maex K.   in Microelectronic Engineering

ISSN:0167-9317|70|2|302-307

Elsevier‎(2003)‎

Access to resources Favorite 4.089106