By Pil Kim Y.   Chung U.   Tae Moon J.   Kim S.U.   in Microelectronics Reliability

ISSN:0026-2714|43|9|1461-1464

Elsevier‎(2003)‎

Access to resources Favorite 5.364536

By BAE B.   LIM J.   YOO D.   NAM S.   HEO J.   IM D.   CHO B.   PARK S.   KIM H.   CHUNG U.   MOON J.   in Integrated Ferroelectrics

ISSN:1058-4587|75|1|235-241

Taylor & Francis Ltd‎(2005)‎

Access to resources Favorite 3.6815557

By LEE K.   PARK K.   NAM S.   BAE B.   LIM J.   LEE M.   JOO S.   CHO S.   PARK S.   CHUNG U.   MOON J.   in Ferroelectrics

ISSN:0015-0193|303|1|15-23

Taylor & Francis Ltd‎(2004)‎

Access to resources Favorite 3.6815557

By Lee K. M.   Park K. S.   Nam S. D.   Lee S. W.   Joo S. H.   Seo J. S.   Kim Y. D.   Cho S. L.   Son Y. H.   An H. G.   Kim H. J.   Chung Y. J.   Heo J. E.   Lee M. S.   Park S. O.   Chung U. I.   Moon J. T.   in Integrated Ferroelectrics

ISSN:1058-4587|48|1|171-180

Taylor & Francis Ltd‎(2002)‎

Access to resources Favorite 2.340422

By Yahiaoui R.   Chung U.-C.   Burokur S.   Lustrac A.   Elissalde C.   Maglione M.   Vigneras V.   Mounaix P.   in Applied Physics A

ISSN:0947-8396|114|3|997-1002

Springer Publishing Company ‎(2014)‎

Access to resources Favorite 1.1505235

By Kim D. C.   Seo S.   Suh D. -S.   Jung R.   Lee C. W.   Shin J. K.   Yoo I. K.   Baek I. G.   Kim H. J.   Yim E. K.   Lee C. W.   Park S. O.   Kim H. S.   Chung U-In   Moon J. T.   Ryu B. I.   Kim J. -S.   Park B. H.   in Integrated Ferroelectrics

ISSN:1058-4587|93|1|90-97

Taylor & Francis Ltd‎(2007)‎

Access to resources Favorite 0.65744203