By Vitushkin L.   Becker M.   Jiang Z.   Francis O.   van Dam T. M.   Faller J.   Chartier J.-M.   Amalvict M.   Bonvalot S.   Debeglia N.   Desogus S.   Diament M.   Dupont F.   Falk R.   Gabalda G.   Gagnon C. G. L.   Gattacceca T.   Germak A.   Hinderer J.   Jamet O.   Jeffries G.   Käker R.   Kopaev A.   Liard J.   Lindau A.   Longuevergne L.   Luck B.   Maderal E. N.   Mäkinen J.   Meurers B.   Mizushima S.   Mrlina J.   Newell D.   Origlia C.   Pujol E. R.   Reinhold A.   Richard Ph.   Robinson I. A.   Ruess D.   Thies S.   van Camp M.   van Ruymbeke M.   de Villalta Compagni M. F.   Williams S.   in Metrologia

ISSN:0026-1394|39|5|407-424

IOP Publishing‎(2002)‎

Access to resources Favorite 2.5608692