By Edon V.   Hugon M. -C.   Agius B.   Bastos K. P.   Miotti L.   Driemeier C.   Salvador L.   Krug C.   Baumvol I. J. R.   Eypert C.   Durand O.   in Integrated Ferroelectrics

ISSN:1058-4587|97|1|129-142

Taylor & Francis Ltd‎(2008)‎

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By Adachi N   Adamovitch V   Adjovi Y   Aida K   Akamatsu H   Akiyama S   Akli A   Ando A   Andrault T   Antonietti H   Anzai S   Arkoun G   Avenoso C   Ayrault D   Banasiewicz M   Banaśkiewicz M   Bernardini L   Bernard E   Berthet E   Blanchard M   Boreyko D   Boros K   Charron S   Cornette P   Czerkas K   Dameron M   Date I   De Pontbriand M   Demangeau F   Dobaczewski ł   Dobrzyński L   Ducouret A   Dziedzic M   Ecalle A   Edon V   Endo K   Endo T   Endo Y   Etryk D   Fabiszewska M   Fang S   Fauchier D   Felici F   Fujiwara Y   Gardais C   Gaul W   Gurin L   Hakoda R   Hamamatsu I   Handa K   Haneda H   Hara T   Hashimoto M   Hashimoto T   Hashimoto K   Hata D   Hattori M   Hayano R   Hayashi R   Higasi H   Hiruta M   Honda A   Horikawa Y   Horiuchi H   Hozumi Y   Ide M   Ihara S   Ikoma T   Inohara Y   Itazu M   Ito A   Janvrin J   Jout I   Kanda H   Kanemori G   Kanno M   Kanomata N   Kato T   Kato S   Katsu J   Kawasaki Y   Kikuchi K   Kilian P   Kimura N   Kiya M   Klepuszewski M   Kluchnikov E   Kodama Y   Kokubun R   Konishi F   Konno A   Kontsevoy V   Koori A   Koutaka A   Kowol A   Koyama Y   Kozioł M   Kozue M   Kravtchenko O   Kruczała W   Kudła M   Kudo H   Kumagai R   Kurog   in Journal of Radiological Protection

ISSN:0952-4746|36|1|49-66

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