By Jefferts S. R.   Shirley J.   Parker T. E.   Heavner T. P.   Meekhof D. M.   Nelson C.   Levi F.   Costanzo G.   De Marchi A.   Drullinger R.   Hollberg L.   Lee W. D.   Walls F. L.   in Metrologia

ISSN:0026-1394|39|4|321-336

IOP Publishing‎(2002)‎

Access to resources Favorite 1.1320568