

Author: Andrei Alexandru Krupa Katarzyna Jozwik Michal Delobelle Patrick Hirsinger Laurent Gorecki Christophe Nieradko Lukasz Meunier Cathy
Publisher: Edp Sciences
E-ISSN: 1765-2960|8|3|267-278
ISSN: 1296-2139
Source: Mécanique et Industries, Vol.8, Iss.3, 2007-08, pp. : 267-278
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Abstract
Cet article présente les potentialités de films d'AlN piézoélectriques comme éléments actionneurs pour les MEMS. Le cas de micropoutres constituées d'un empilement de différents films (électrode/AlN/électrode/substrat Si) est présenté. Un dispositif interférométrique de type Twyman-Green permet de quantifier précisément les déformées et les déplacements ce qui permet de calculer, à l'aide des équations non simplifiées, différentes grandeurs physiques des films d'AlN, par exemple le module d'Young lié à l'orientation (002) des cristallites, les contraintes résiduelles consécutives au mode d'élaboration, le coefficient de dilatation
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