Mesure et cartographie à l’échelle nanométrique des propriétés ferroélectriques et diélectriques des couches minces par les techniques dérivées de la microscopie à force atomique*

Author: Gautier B.   Brugere A.   Ligor O.   Gidon S.   Albertini D.   Descamps-Mandine A.  

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 1778-3771|99|4|483-488

ISSN: 0032-6895

Source: Matériaux & Techniques, Vol.99, Iss.4, 2011-10, pp. : 483-488

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