高k栅介质厚度对MOS器件特性影响的数值模拟研究
Publisher： 国家哲学社会科学学术期刊数据库
E-ISSN： 1671-6132|014|3|12-15
ISSN： 1671-6132
Source： 南阳师范学院学报, Vol.014, Iss.3, 2015-01, pp. : 12-15
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Abstract