Utilisation du spectre de Fourier des courbes de réflectivité X pour l'étude d'empilements de couches minces

E-ISSN： 1764-7177|06|C4|C4-367-C4-383

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.06, Iss.C4, 1996-07, pp. : C4-367-C4-383

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