Application de la méthodologie des plans d'expériences de Taguchi à l'analyse des relations entre paramètres d'élaboration, microstructure et contraintes résiduelles dans des dépôts électrolytiques de platine

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|10|PR10|Pr10-155-Pr10-162

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.10, Iss.PR10, 2000-09, pp. : Pr10-155-Pr10-162

Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.

Previous Menu Next

Related content

Evolution des contraintes résiduelles de l'acier à roulements EZ100CD17 enfonction des conditions d'élaboration, en fatigue de contact : mesures pardiffraction X

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 06, Iss. C4, 1996-07 ,pp. : C4-273-C4-278

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Le ruban de silicium E.P.R.: élaboration et mise au point d'un dispositif d'analyse des contraintes résiduelles

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 22, Iss. 7, 1987-07 ,pp. : 557-562

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

APPLICATION DE LA SPECTROSCOPIE DE PERTES D'ÉNERGIE D'ÉLECTRONS À HAUTE TENSION À L'ANALYSE DE MICROPARTICULES DANS DES COUPES DE TISSUS BIOLOGIQUES

By  

Le Journal de Physique Colloques, Vol. 45, Iss. C2, 1984-02 ,pp. : C2-581-C2-584

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Analyse des contraintes résiduelles dans les dépôts réalisés par rechargement laser sur alliage d'aluminium

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 12, Iss. 6, 2002-07 ,pp. : 177-186

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

La spectrométrie de fluorescence X et l'analyse quantitative de couches minces à l'aide d'échantillons massifs. Application au dosage des aérosols atmosphériques

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 06, Iss. C4, 1996-07 ,pp. : C4-667-C4-674

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite