Diffraction des rayons X sur couches minces polycristallines ou épitaxiées. Utilisation d'un montage en réflexion asymétrique équipé d'un détecteur courbe à localisation

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|10|PR10|Pr10-377-Pr10-386

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.10, Iss.PR10, 2000-09, pp. : Pr10-377-Pr10-386

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