Appareillage pour l'étude expérimentale de l'ionisation par choc et de la lumière de recombinaison associée dans les semiconducteurs

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 0035-1687|2|1|23-28

ISSN: 0035-1687

Source: Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.2, Iss.1, 1967-03, pp. : 23-28

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