Publisher: Edp Sciences
E-ISSN: 0035-1687|2|3|197-202
ISSN: 0035-1687
Source: Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.2, Iss.3, 1967-09, pp. : 197-202
Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.
Related content
Mesure de la viscosité des semiconducteurs liquides
Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 11, Iss. 2, 1976-03 ,pp. :
Mesure du coefficient de hall des métaux ou semiconducteurs liquides
Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 5, Iss. 4, 1970-08 ,pp. :
De la mesure de pertes à la caractérisation dynamique de dispositifs semiconducteurs
Le Journal de Physique IV, Vol. 135, Iss. issue, 2006-10 ,pp. :
Mesure des températures locales de surface. Rôle de la microtopographie
Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 21, Iss. 3, 1986-03 ,pp. :
Dispositif de mesure de la polarisation des diélectriques à pertes
Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 12, Iss. 5, 1977-05 ,pp. :