Méthode d'intégration électronique pour la mesure d'aimantation de supraconducteurs de faible volume et de faible champ critique

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|4|1|42-44

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.4, Iss.1, 1969-03, pp. : 42-44

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