Mesures optiques sous ultra-vide à basses températures sur couches minces préparées in situ

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|13|3|155-159

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.13, Iss.3, 1978-03, pp. : 155-159

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