Étude des transitions électroniques au voisinage du seuil interbande dans des couches minces de MgF2 et Alf3 en fonction des conditions de préparation

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|12|4|529-532

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.12, Iss.4, 1977-04, pp. : 529-532

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