Dispositif pour mesures de réflexion ou de transmission jusqu'a 10 eV à basse température (10 °k) sur échantillons clivés en ultravide

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|5|5|727-729

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.5, Iss.5, 1970-10, pp. : 727-729

Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.

Previous Menu Next

Related content

Appareil de pression hydrostatique pour mesures électriques jusqu'à 17 kbar à très basse température

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 5, Iss. 5, 1970-10 ,pp. : 731-736

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Sur un dispositif simple destiné à la diffractométrie X de poudre à basse température

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 8, Iss. 1, 1973-03 ,pp. : 99-100

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Dispositif de mesures du pouvoir thermoélectrique sur des échantillons très résistants entre 4 et 300 K

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 15, Iss. 11, 1980-11 ,pp. : 1607-1612

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Dispositif de mesure de pouvoir thermoélectrique à très basse température

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 17, Iss. 8, 1982-08 ,pp. : 499-502

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Dispositif utilisant la transmission hyperfréquence pour mesurer la durée de vie des porteurs injectés dans un échantillon semi-conducteur à basse température. Application à la diode pin

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 6, Iss. 1, 1971-03 ,pp. : 1-4

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite