Analyse de données ellipsométriques provenant de l'investigation de films très minces absorbants et homogènes

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 0035-1687|12|8|1171-1180

ISSN: 0035-1687

Source: Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.12, Iss.8, 1977-08, pp. : 1171-1180

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