Caractérisation d'un substrat semiconducteur par technique micro-onde et injection photonique

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|13|1|29-37

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.13, Iss.1, 1978-01, pp. : 29-37

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