Dispositif interférentiel destiné à la mesure de l'épaisseur mécanique de couches minces

E-ISSN： 0035-1687|1|1|71-73

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.1, Iss.1, 1966-03, pp. : 71-73

Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.

Previous Menu Next

Related content

Méthode de détermination des propriétés optiques de couches minces et application à la réalisation de couches de germanium à indices optiques indépendants de l'épaisseur

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 4, Iss. 1, 1969-03 ,pp. : 24-28

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Montage interférentiel pour mesurer l'épaisseur optique de lames minces transparentes

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 2, Iss. 3, 1967-09 ,pp. : 187-190

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Sur l'épaisseur des couches de passage

Journal de Physique Théorique et Appliquée, Vol. 9, Iss. 1, 1900-01 ,pp. : 78-91

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

L'épaisseur de la couche capillaire

Journal de Physique Théorique et Appliquée, Vol. 3, Iss. 1, 1904-01 ,pp. : 927-938

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Contribution à l'étude de couches minces de matériaux semiconducteurs utilisés dans la préparation de photopiles

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 1, Iss. 3, 1966-09 ,pp. : 164-172

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite