Déformation cyclique in situ dans le microscope électronique à 200 kV. Présentation du porte-objet de fatigue

E-ISSN： 0035-1687|20|3|207-213

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.20, Iss.3, 1985-03, pp. : 207-213

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