Diffusion des rayonnements X et visibles ; microscopie en champ proche : utilisation comparée pour la caractérisation des surfaces

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|118|1|395-405

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.118, Iss.1, 2004-11, pp. : 395-405

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