Mesure par diffraction des rayons X des microdéformations dans des films minces texturés d'Au

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1286-4897|4|6|1025-1032

ISSN： 1155-4320

Source： Journal de Physique III, Vol.4, Iss.6, 1994-06, pp. : 1025-1032

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