Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X dans une couche mince de 1 000 Å de tungstène

E-ISSN： 1286-4897|2|9|1741-1748

ISSN： 1155-4320

Source： Journal de Physique III, Vol.2, Iss.9, 1992-09, pp. : 1741-1748

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