Appareil permettant la caractérisation thermique de substrats et matériaux à forte conductibilité pour micro-électronique

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1286-4897|3|4|677-688

ISSN： 1155-4320

Source： Journal de Physique III, Vol.3, Iss.4, 1993-04, pp. : 677-688

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