Validation de la méthode d'étalonnage en couche mince par utilisation de géostandards déposés sur filtres pour l'analyse élémentaire par SFX

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 1764-7177|08|PR5|Pr5-359-Pr5-367

ISSN: 1155-4339

Source: Le Journal de Physique IV, Vol.08, Iss.PR5, 1998-10, pp. : Pr5-359-Pr5-367

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