Validation de la méthode d'étalonnage en couche mince par utilisation de géostandards déposés sur filtres pour l'analyse élémentaire par SFX
Publisher: Edp Sciences
E-ISSN: 1764-7177|08|PR5|Pr5-359-Pr5-367
ISSN: 1155-4339
Source: Le Journal de Physique IV, Vol.08, Iss.PR5, 1998-10, pp. : Pr5-359-Pr5-367
Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.