Publisher： John Wiley & Sons Inc
E-ISSN： 1521-3943|46|4|157-157
ISSN： 0031-9252
Source： PHYSIK IN UNSERER ZEIT (PHIUZ), Vol.46, Iss.4, 2015-07, pp. : 157-157
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Abstract
AbstractImmer leistungsfähigere Mikroskope haben der Wissenschaft enorme Erkenntnisgewinne beschert. Ihre Aufnahmen liefern qualitative und quantitative Informationen über die untersuchten Objekte, was insbesondere für Nanowissenschaften wichtig ist. Besonders vielversprechend ist das jüngste Verfahren mit geladenen Teilchen, die Heliumionen‐Mikroskopie. Sie bietet gegenüber der etablierten Rasterlektronenmikroskopie attraktive Vorteile.
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