Croissance et caractérisation d'interfaces de fullerènes sur substratsmétalliques et semiconducteurs

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|07|C6|C6-137-C6-149

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.07, Iss.C6, 1997-12, pp. : C6-137-C6-149

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