Étude expérimentale des effets de l'eau sur les propriétés électriques de l'oxyde anodique de silicium et de l'interface oxyde/semiconducteur

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|3|3|265-274

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.3, Iss.3, 1968-09, pp. : 265-274

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