Dispositif utilisant la transmission hyperfréquence pour mesurer la durée de vie des porteurs injectés dans un échantillon semi-conducteur à basse température. Application à la diode pin

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|6|1|1-4

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.6, Iss.1, 1971-03, pp. : 1-4

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