Etude expérimentale des fluctuations de courant dans une diode à double base au voisinage de son point critique

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 0035-1687|16|9|517-522

ISSN: 0035-1687

Source: Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.16, Iss.9, 1981-09, pp. : 517-522

Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.

Previous Menu Next