Étude des aberrations du second ordre du microanalyseur ionique et de quelques autres systèmes destinés au filtrage d'images étendues

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|6|1|65-89

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.6, Iss.1, 1971-03, pp. : 65-89

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