Influence de la température sur la vitesse limite des trous dans un transistor MOS à canal court de type P

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 0035-1687|16|10|597-599

ISSN: 0035-1687

Source: Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.16, Iss.10, 1981-10, pp. : 597-599

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