Effets galvanomagnétiques dans les semiconducteurs anisotropes inhomogènes Application à la caractérisation des films de silicium sur saphir

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|15|3|725-732

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.15, Iss.3, 1980-03, pp. : 725-732

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