STRUCTURE DU SEUIL DE PHOTOÉMISSION ET PROPRIÉTÉS ÉLECTRONIQUES DE SURFACE DU SILICIUM CLIVÉ SOUS ULTRAVIDE

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0449-1947|34|C6|C6-35-C6-35

ISSN： 0449-1947

Source： Le Journal de Physique Colloques, Vol.34, Iss.C6, 1973-11, pp. : C6-35-C6-35

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