Étude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF) et à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrométrie d'émission atomique à source plasma couplée par induction (ICP-AES)

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|118|1|447-455

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.118, Iss.1, 2004-11, pp. : 447-455

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