Effet de la température sur la réflectivité du silicium oxydé : déterminationexpérimentale de la sensibilité relative ; application à la mesure sans contact de latempérature à la surface d'un thyristor GTO en commutation

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1286-4897|6|2|279-300

ISSN： 1155-4320

Source： Journal de Physique III, Vol.6, Iss.2, 1996-02, pp. : 279-300

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