Étude de la croissance de l'interface Ni/MgO(001) par diffraction de rayons X en incidence rasante

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|08|PR4|Pr4-221-Pr4-226

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.08, Iss.PR4, 1998-06, pp. : Pr4-221-Pr4-226

Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.

Previous Menu Next

Related content

La diffraction de rayons X en incidence rasante à l'ESRF : application à l'étude de surfaces et d'interfaces à base d'oxydes

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 08, Iss. PR5, 1998-10 ,pp. : Pr5-203-Pr5-213

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Diffraction des rayons X en incidence rasante pour l'analyse destransformations structurales de surfaces d'aciers induites par implantationionique multiple

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 06, Iss. C4, 1996-07 ,pp. : C4-399-C4-408

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Analyse de courbes de réflectivité des rayons X sous incidence rasante par transformée en ondelettes

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 10, Iss. PR10, 2000-09 ,pp. : Pr10-387-Pr10-393

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Application de la technique des oscillations d'intensité de diffraction électronique en incidence rasante à la croissance des semi-conducteurs III-V par épitaxie par jets moléculaires

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 22, Iss. 8, 1987-08 ,pp. : 827-836

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Caractérisation du mode de durcissement structural des couches implantées à haute énergie par les techniques de nanoindentation et de diffraction des rayons X en incidence rasante

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 10, Iss. PR10, 2000-09 ,pp. : Pr10-245-Pr10-254

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite