Caractérisation des panaches industriels par imagerie hyperspectrale aéroportée

Author： Briotter Xavier   Foucher Pierre-Yves   Marion Rodolphe   Deschamps Adrien  

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 2269-8418|volume|82|30-34

ISSN： 1629-4475

Source： Photoniques, Vol.volume, Iss.82, 2016-09, pp. : 30-34

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Abstract

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