Nouvelles applications de la spectrométrie d'émission X induite par excitation électronique de basse énergie (LEEIXS) en analyse de surface

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|06|C4|C4-467-C4-474

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.06, Iss.C4, 1996-07, pp. : C4-467-C4-474

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