Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|118|1|193-202

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.118, Iss.1, 2004-11, pp. : 193-202

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