Related content

Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 08, Iss. PR5, 1998-10 ,pp. : Pr5-279-Pr5-286

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Application de la théorie géométrique de la diffraction à la caractérisation de défauts par spectroscopie ultrasonore

By Gazanhes C.   Sessarego J. P.   Amoranto T.  

Acta Acustica united with Acustica, Vol. 59, Iss. 4, 1986-02 ,pp. : 237-246

S. Hirzel Verlag

Access to resources Recommend Favorite

Ségrégation du carbone et du silicium sur la face (100) d'un alliage Fe-Si interprétation par le modèle de Guttmann

By  

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 21, Iss. 4, 1986-04 ,pp. : 257-261

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Films de nitrure de carbone obtenus par ablation laser ArF du graphite en atmosphère d'azote. Corrélation entre l'émission du plasma et la composition du dépôt

By  

Le Journal de Physique IV, Vol. 09, Iss. PR5, 1999-05 ,pp. : Pr5-145-Pr5-146

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Calcul simplifié du rendement de collecte du courant induit par un faisceau d'électrons (EBIC). Application à la caractérisation de diodes AI-Si p et Si n+ p

By  

Journal de Physique III, Vol. 3, Iss. 3, 1993-03 ,pp. : 603-618

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite