Recuit pulsé de semiconducteurs par hyperfréquences. Etude de la répartition de la puissance dans l'échantillon
Publisher: Edp Sciences
E-ISSN: 0035-1687|19|4|319-323
ISSN: 0035-1687
Source: Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.19, Iss.4, 1984-04, pp. : 319-323
Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.