Caractérisation par diffraction X des superréseaux GaAlAs-GaAs. Importance des techniques et de la procédure utilisées

E-ISSN： 0035-1687|24|7|711-720

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.24, Iss.7, 1989-07, pp. : 711-720

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