Caractérisation de jonctions ultra-minces réalisées par dopagelaser

E-ISSN： 1764-7177|108|issue|71-74

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.108, Iss.issue, 2003-06, pp. : 71-74

Disclaimer: Any content in publications that violate the sovereignty, the constitution or regulations of the PRC is not accepted or approved by CNPIEC.

Previous Menu Next

Related content

Contribution des plasmons de surface au rayonnement lumineux émis par des jonctions tunnel MIM réalisées sur réseaux holographiques

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 19, Iss. 7, 1984-07 ,pp. : 503-512

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique

Le Journal de Physique IV, Vol. 122, Iss. issue, 2004-12 ,pp. : 87-92

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

CARACTÉRISATION DE COUCHES MINCES DE VERRES DE CHALCOGENURE PRÉPARÉES PAR PECVD

Le Journal de Physique Colloques, Vol. 50, Iss. C5, 1989-05 ,pp. : C5-343-C5-351

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Caractérisation par microsonde électronique de couches minces de Cd 1-xZnxS pour cellules solaires

Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol. 15, Iss. 2, 1980-02 ,pp. : 257-262

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite

Propriétés magnétiques de films métalliques ultra-minces : détermination de la structure électronique

Le Journal de Physique IV, Vol. 06, Iss. C7, 1996-11 ,pp. : C7-225-C7-232

Edp Sciences

Access to resources Recommend Favorite