Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|122|issue|87-92

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.122, Iss.issue, 2004-12, pp. : 87-92

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