Étude par spectroscopie d'admittance et MEB de la dégradationélectrique des couches minces de CuAlS2 non dopé déposées sous vide

Author: Helali N.   Bouricha B.   Rezig B.  

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 1286-0050|3|1|9-19

ISSN: 1286-0042

Source: EPJ Applied Physics (The), Vol.3, Iss.1, 2010-03, pp. : 9-19

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Abstract

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