Nouvel appareillage de diffraction X pour l'analyse de l'état mécanique (contraintes et microdéformations) de films minces nanocristallins

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1764-7177|06|C4|C4-187-C4-196

ISSN： 1155-4339

Source： Le Journal de Physique IV, Vol.06, Iss.C4, 1996-07, pp. : C4-187-C4-196

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