Caractérisation de l'interface isolant InP formé en oxydation plasma par l'étude des transitoires de capacité DLTS et DDLTS

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 0035-1687|23|1|71-77

ISSN： 0035-1687

Source： Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.23, Iss.1, 1988-01, pp. : 71-77

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