Formalisme rationnel le la méthode de détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X: application aux couches minces et multicouches

Publisher： Edp Sciences

E-ISSN： 1286-4897|3|6|1183-1188

ISSN： 1155-4320

Source： Journal de Physique III, Vol.3, Iss.6, 1993-06, pp. : 1183-1188

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